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C测试仪3504-40/50/60

简要描述:

日本日置HIOKI C测试仪3504-40/50/60用BIN的分选接口进行被测物体的测试。

更新时间:2019-06-25

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C测试仪3504-40/50/60

日本日置HIOKI C测试仪3504-40/50/60系列产品详细信息

日本日置HIOKI C测试仪3504-40/50/60系列概述

日本日置HIOKI C测试仪3504-40/50/60用BIN的分选接口进行被测物体的测试。

日本日置HIOKI C测试仪3504-40/50/60系列特点

★   高速测量2ms
★   能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断
★   对应测试线,比较器功能/触发输出功能
★   3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
★   3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试
★   查出全机测量中的接触错误,提高成品率

日本日置HIOKI C测试仪3504-40/50/60系列规格表

测量参数 Cs,Cp(电容),D(损耗系数tanδ)
测量范围 C:0.9400pF~20.0000mF
D:0.00001~1.99000
基本精度 (代表值)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※测定精度= 基本精度× B× C× D× E, B~E为各系数
测量频率 120Hz, 1kHz
测量信号电平 恒压模式: 100mV (仅现3504-60), 500 mV, 1 V
测量范围:
CV 100mV:~ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 500mV: ~ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 1V: ~ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)
输出电阻 5Ω(CV测量范围以外的开路端子电压模式时)
显示 发光二级管 (6位表示,满量程计算器根据量程而定)
测量时间 典型值: 2.0 ms ( 1 kHz, FAST)
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
功能 BIN分类测量 (3504-40除外), 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值的比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 控制用输出输入 (EXT. I/O), RS-232C接口(标配), GP-IB接口(3504-40除外)
电源 AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 樶大110VA
体积及重量 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件 电源线×1,预备电源保险丝×1,使用说明书×1

 

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