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日本日置HIOKI 阻抗分析仪IM7580系列

简要描述:

日本日置HIOKI 阻抗分析仪IM7580系列5种机型的测量频率覆盖了1MHz〜3GHz。和用于6种尺寸SMD的测试治具IM9201组合使用,能够简单准确的测量样品。能够以测量结果为基础推测5种等效电路模式的常数。而且,可以通过模拟功能,使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。此外,使用比较器功能,还能够确定测量结果是否在判定区域内。

更新时间:2019-06-25

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日本日置HIOKI 阻抗分析仪IM7580系列

日本日置HIOKI 阻抗分析仪IM7580系列产品详细信息

日本日置HIOKI 阻抗分析仪IM7580系列概述

日本日置HIOKI 阻抗分析仪IM7580系列5种机型的测量频率覆盖了1MHz〜3GHz。和用于6种尺寸SMD的测试治具IM9201组合使用,能够简单准确的测量样品。能够以测量结果为基础推测5种等效电路模式的常数。而且,可以通过模拟功能,使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。此外,使用比较器功能,还能够确定测量结果是否在判定区域内。

日本日置HIOKI 阻抗分析仪IM7580系列特点

★    测量频率1MHz~300MHz
★    测量时间:樶快0.5ms
★    基本精度±0.72%rdg.
★    紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小
★    丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)
★    使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量

日本日置HIOKI 阻抗分析仪IM7580系列规格表

测量模式 LCR(LCR测量),分析(扫频测量),连续测量
测量参数 Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
精度保证范围 100 mΩ~5 kΩ
显示范围 Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ)
Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99)
θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF)
D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS)
G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)
基本精度 Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41°
测量频率 1 MHz~300 MHz (100 Hz~10 kHz步进)
测量信号电平 功率 (dbm)模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm
电压 (V)模式: 4 mV~1001 mVrms
电流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02mArms
输出阻抗 50 Ω (10 MHz时)
显示 彩色TFT8.4英寸、触屏
测量时间 樶快0.5ms(FAST、模拟测量时间、代表值)
功能 接触检查、比较器、BIN判定(分类功能)、面板读取·保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿
接口 EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN
RS-232C (选件), GP-IB (选件)
电源 AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max
体积和重量 主机: 215W × 200H × 268D mm, 6.5 kg
测试头: 61W × 55H × 24D mm, 175 g
附件 电源线 ×1, 测试头 ×1, 连接线 ×1, 使用说明书 ×1, CD-R (通讯使用说明书) ×1

 

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