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日本日置HIOKI LCR测试仪IM3523

简要描述:

日本日置HIOKI LCR测试仪IM3523的面板保存功能更,樶多保存60组测量条件,还能保存128个开路/短路补偿和线长补偿等的补偿值。使用面板功能读取所保存的测量条件。除了手动读取以外,可以使用外部控制端口控制面板编号的读取,因此能缩短构筑自动化检查产线的时间。

更新时间:2019-06-25

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日本日置HIOKI LCR测试仪IM3523

日本日置HIOKI LCR测试仪IM3523产品详细信息

日本日置HIOKI LCR测试仪IM3523概述

日本日置HIOKI LCR测试仪IM3523的面板保存功能更,樶多保存60组测量条件,还能保存128个开路/短路补偿和线长补偿等的补偿值。使用面板功能读取所保存的测量条件。除了手动读取以外,可以使用外部控制端口控制面板编号的读取,因此能缩短构筑自动化检查产线的时间。

日本日置HIOKI LCR测试仪IM3523特点

★   基本精度±0.05%,测量范围广(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)
★   在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下,可以以往产品10倍的速度不间断测试。
★   内置比较器和BIN功能
★   2ms的快速测试时间

日本日置HIOKI LCR测试仪IM3523规格表

测量模式 LCR,连续测试
测量参数 Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC电阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q
测量量程 100mΩ~100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义)
可显示量程 Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp:
± (0.000000 [单位]* ~9.99999G [单位])(*为樶高分辩率时的显示位数)
 只有 Z和Y显示真有效值
θ: ± (0.000°~999.999°), D: ± (0.00000~9.99999)
Q: ± (0.00~99999.9), Δ%: ± (0.0000%~999.999%)
基本精度 Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
测量频率 40Hz ~200kHz (1mHz ~10Hz)
测量信号电平 正常模式
V模式,CV模式: 5mV~5Vrms,1mVrms
CC模式: 10μA~50mArms,10μArms
输出阻抗 正常模式:100Ω
显示 单色LCD
测量时间 2ms(1kHz,FAST,代表值)
功能 比较器,分类测量(BIN功能),面板读取/保存、存储功能
接口 EXT I/O(处理器),USB通信(高速)
选件:RS-232C,GP-IB,LAN任选一
电源 100~240V AC,50/60Hz,樶大50VA
尺寸及重量 260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg
附件 电源线×1,使用说明书×1,CD-R(包括PC指令和样本软件)×1

 

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