赛可世界樶高分辨率X-eye NF120概述

纳米-focus X射线检测设备

适应于亚微米单位不良检测要求的半导体封装，晶片领域检测(WLP)，配备400纳米级的纳米-focus 射线管的设备。

用精密的定位轴可将不良位置准确的检查出来。

配备3D CT模块时可进行单层分析，通过晶片方向盘的安装，对晶片样品进行自动解读。

Wafer Bump Void

Wafer TSV Void

赛可世界樶高分辨率X-eye NF120特点

★ 为 Wafer Lebel Packaging检测的非破坏分析设备
★ 提供Dual Type的CT，获得最清影像
★ TSV, Micro Bump, Pattern