LCR测试仪就是用来测试元器件（电容/电感/电阻）参数的。在一般情况下，电阻只要测量其直流电阻值就可以了，这样可以使用万用表或者电阻测试仪。

　　

　　用仪器测量元器件的参数时，其关键问题是测量误差。它的误差来源主要有两部分，首先是测试仪本身的内部误差，其次是由不正确校准、测试件的连接方法及不正确选择测量电路模型引起的。一般连接方法越麻烦越能准确地测量出元器件的参数。

　　

　　LCR测试仪的校准

　　

　　首先对测试仪进行开路校准，开路校准主要是消除测试夹具与被测件相并联的杂散导纳。其次是进行短路校准，通过一短路条（用低阻抗的金属板）将高、低电极相连。短路校准主要是消除测试夹具与被测件相串联的残余阻抗的影响。

　　

　　选择测量电路模型

　　

　　对于小电容、大电感来说，电抗一般都很大。这意味着并联电阻的影响相对于小数值串联电阻更加显著，所以应采用并联电路模型。相反，对于大电容、小电感则采用串联模型。大于10K11左右用并联，小于10KQ左右用串联。

　　

　　LCR测试仪与被测件的连接

　　

　　对测试电缆和被测件进行屏蔽，通过抑制杂散电容，减少对高阻抗测试的测量误差。一般用于小电容的测量。为了将测试引线的杂散电容减小，测试电缆引线的中心导体应维护尽可能短，测量接头的屏蔽与电缆中心导体互联，以降低对地杂散电容的影响。

　　

　　随着科学应用技术不断发展的需要，LCR测试仪的测量精度要求越来越重要，因此测量方法的好坏对保征产品质量和提高企业经济效益有着一定的实际意义。